EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心-服务项目
CE测试检测项目
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晶振负性阻抗测试
晶体在设计和使用的过程中，用户会发现其起振时间过长以及工作过程中意外停振等不稳定的情况，导致系统工作异常等严重后果。 EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心将在晶体回路中串入可调电阻，从小到大改变电阻阻值，选择使回路停振之前的阻值作为-R的评估值。用相同方法测试更改负载电容后回路的负性阻抗值，并保存数据对比?？梢允垢谋渖杓坪蟮幕芈犯鹤杩瓜灾岣摺? -
频率精度测试
负载电容(CL)是用来决定在振荡电路中晶振频率的参数，从加在振荡电路中晶振两端的电容可知负载容量。因电路的负载电容的不同，晶振的频率会相应的产生变动。为了获得目标的频率精度，必须使晶振于负载电容相配。 。通过晶体电路评估测试（CE测试），我们将为你找到最佳外接负载电容值，提供高精度的线路匹配方案。 -
驱动功率测试
每颗晶体在工作时都不能超过它的最大功率值，如果超出将导致频率偏差变大，晶体温度升高严重的可以导致晶体永久损坏，从而导致系统崩溃。 EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心通过专业的驱动功率测试方法和专业设备,获得针对特试晶振回路的驱动功率准确上限数据。
